結(jié)構(gòu)說明
1導(dǎo)體采用緊壓導(dǎo)體， 緊壓系數(shù)大于0.9,800mm2及以上采用分割導(dǎo)體。
2內(nèi)屏采用繞包半導(dǎo)電尼龍帶加擠包超光滑半導(dǎo)電屏蔽層構(gòu)成，1000mm2以上繞包雙層半導(dǎo)電尼龍帶。
3絕緣采用超凈化交聯(lián)聚乙烯絕緣料。
4絕緣屏蔽采用超光滑半導(dǎo)電屏蔽料。
5 YJLW02、YJLW03采用二層厚度為2.0mm的半導(dǎo)電阻水帶、間隙繞包作緩沖層。
6金屬屏蔽，YJLW02、YJLW03采用皺紋鋁，YJV、YJY采用不小于95mm2的銅絲纏繞構(gòu)成。
7外護(hù)層選用90℃PVC或PE護(hù)套料，表面同步擠出厚度為0.5~1mm石墨電極層。
6、主要試驗項目及技術(shù)指標(biāo)
1電性能
局部放電試驗(例行試驗)
成品電纜在1.5U0額定電壓下局放電量不大于5PC.
交流耐壓試驗(例行試驗)
試驗在成盤電纜上進(jìn)行,在金屬屏蔽與導(dǎo)線芯上施加2.5U0交流電壓,持續(xù)30分鐘,絕緣不擊穿.
非金屬護(hù)套直流耐壓試驗(例行試驗)
在金屬屏蔽與涂覆在護(hù)層表面的石墨電極層間,施加直流電壓25kV，持續(xù)1分鐘，護(hù)層不擊穿。
(型式試驗)
將試樣導(dǎo)體加熱至高于電纜許可工作溫度+5~10℃范圍內(nèi)，將電壓升到U0時測的tgδ值不大于8*10-4.
電容試驗(型式試驗)
在金屬屏蔽與導(dǎo)線芯上測試電容，測量的值不大于設(shè)計值的8%。
熱循環(huán)電壓試驗(型式試驗)
將試樣彎成U型、導(dǎo)體加熱至高于電纜許可工作溫度+5~10℃范圍內(nèi)，加熱持續(xù)時間不小于8h，然后保持導(dǎo)體溫度在上述溫度2h，隨后自然冷卻保持時間16h，溫度控制在15~45℃范圍內(nèi)。冷循環(huán)20次后，施加2U0交流，絕緣不擊穿。
沖擊電壓試驗(型式試驗)
將試樣導(dǎo)體加熱至高于電纜許可工作溫度+5~10℃范圍內(nèi),對試樣電纜施加1550kV沖擊試驗電壓，正負(fù)極性各10次而不擊穿或閃絡(luò)。
7、物理試驗
絕緣及護(hù)套的主要物理機械性能(抽樣試驗)